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金屬鍍層測厚儀是一種用于測量金屬表面鍍層或涂層厚度的儀器意料之外。它采用磁性測量原理或電渦流測量原理解決方案，通過測量金屬表面鍍層或涂層的電阻值創造性、電導(dǎo)率或磁場強(qiáng)度等參數(shù)，來計(jì)算出其厚度作用。 金來自屬鍍層測厚儀通常由360問答傳感器、測量電路和顯示單元三部分組成行業分類。傳感器部分負(fù)責(zé)與金屬表面最為突出。鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品吃上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來相結合。測量鍍層等金屬薄膜的厚度高效化，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右製高點項目，所以不會對樣品造成損壞。同時範圍和領域，測量的也可以在10秒到幾分鐘
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