手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線(xiàn)熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器深入交流研討，主要由X光管資料、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成關註度，由于其便攜具有便攜堅定不移、準(zhǔn)確等特點(diǎn)，使其在合金更讓我明白了、礦石推進高水平、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用拓展應用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號(hào)確認(rèn)以及定量測(cè)量元素生產創效。
手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)： 　　
1.手持式光譜儀使用過(guò)程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損管理。
 2.保持檢測(cè)口薄膜的清潔優化上下，檢測(cè)口薄膜被污染可能引起檢測(cè)誤差。檢測(cè)口薄膜破損繼續(xù)使用可能會(huì)造成手持式光譜儀的損壞模樣。應(yīng)及時(shí)清潔或更換生產體系。 　　
3.被檢測(cè)物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除，以免造成測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確很重要，被檢測(cè)物表面凹凸不平能力和水平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測(cè)時(shí)注意覆蓋，防止手持式光譜儀檢測(cè)口薄膜損壞。檢測(cè)鍍件時(shí)研究，要將電鍍層去除高效。 　　
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí)，應(yīng)更換電池提高，充電機構。

合金分析儀技術(shù)性能：
1. 真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無(wú)損,,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的百分比含量。 2. 只需將合金分析儀直接接觸待測(cè)合金表面交流，無(wú)須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定合金等級(jí)基礎。 3. 被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是合金塊、合金片還不大、合金線(xiàn)經過、合金渣、合金粉力度。 4. 不規(guī)則或小型樣品的補(bǔ)償性測(cè)試方法能檢測(cè)很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn)。 5. 手式可延伸的探頭設(shè)計(jì)能對(duì)管道內(nèi)部系統性、焊縫,等位置進(jìn)行檢測(cè)勇探新路。 6. 可檢測(cè)溫度高達(dá)450℃的高溫材料。 7. 可現(xiàn)場(chǎng)在庫(kù)中添加,編輯,合號(hào)傳遞。 8. 快的分析速度,僅需2秒鐘可識(shí)別合金元素試驗。 9. 用戶(hù)化windowsCE6.0系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場(chǎng)完成，用戶(hù)化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能開展攻關合作，使程序更具靈活性結構不合理。 10. 無(wú)需借助電腦，可在現(xiàn)場(chǎng)隨意逐步改善，查看意見征詢，放大相關(guān)元素的光譜圖。 11. 防塵,防霧,防水：一體機(jī)設(shè)計(jì)大大提高，軟膠與塑膠部件凸槽凹槽構(gòu)造設(shè)計(jì)的必然要求，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚(yáng)工裝場(chǎng)地也能正常工作取得了一定進展。 12 更高的檢測(cè)精度完善好，多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效地提高儀器的檢測(cè)精度。 13 超大的圖標(biāo)顯示積極參與，菜單式驅(qū)動(dòng)問題分析，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡(jiǎn)便。 14. 電磁干擾被屏蔽交流研討，即使在靠近手機(jī)或雙向無(wú)線(xiàn)通信裝置處也能正常工作更加完善。

技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線(xiàn)管形式，Ag靶，40kV 檢測(cè)器： SI-PIN檢測(cè)器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源： 交資源配置、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器信息，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子大力發展，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)效應(yīng)豐富內涵。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光產能提升，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差適應性。因此，射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系通過活化。由Moseley定律可知落地生根，只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),可以知道元素的種類(lèi),這是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析健康發展。X射線(xiàn)探測(cè)器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特息有效保障。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來(lái)源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線(xiàn)和分析線(xiàn)的強(qiáng)度改變長效機製，從而引入誤差講實踐。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線(xiàn)會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差營造一處。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火改革創新、淬火、回火取得顯著成效、熱軋新模式、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別不容忽視。 (4)未知元素譜線(xiàn)的重疊干擾組織了。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)說服力，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差服務為一體。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求逐漸顯現。為了檢查系統(tǒng)誤差全會精神，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。
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