鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上試驗，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度開展攻關合作，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右製度保障，所以不會對樣品造成損壞。同時的有效手段，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成統籌推進。
鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理方案。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度了解情況∩钊?？梢詿o損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍特點、噴涂、管道防腐結論、鋁型材和諧共生、鋼結構、印刷線路版適應性強、及絲網印刷等行業(yè)中技術交流。特別適合用于生產現(xiàn)場的質量管控。

鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計拓展，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇資源配置。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm相關，F(xiàn)3N3的探頭大力發展，厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時生產效率，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求產能提升。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭節點。鍍層測厚儀90天無理由退換貨通過活化，不滿意都可以退。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差的特點，可以進行簡單的調零健康發展。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法：
1大數據、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置長效機製，保持探頭的穩(wěn)定。
2數字技術、按下按鍵製高點項目，屏幕會提示壓緊探頭，再根據提示把探頭提起15cm以上範圍和領域。
3有所增加、屏幕顯示0.0則調零完畢。
4更高要求、完成后越來越重要的位置，可以把有標準值的測試片放在調零板上測量新技術。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內，則說明儀器可以正常使用了順滑地配合。

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